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涂層測(cè)厚儀TC260(新款帶打?。?/span>在國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品中，測(cè)量精度（A級(jí)），速度*快，穩(wěn)定性。且操作方便，內(nèi)置打印，外形美觀。主要測(cè)量金屬表面涂、鍍層的厚度。
本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。配置不同的探頭，適用于不同場(chǎng)合。它是無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的儀器。
采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
●自動(dòng)校對(duì)零點(diǎn)，可以系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
●可設(shè)置上下限界超差報(bào)警；
●數(shù)據(jù)傳輸：RS232接口，可與PC連接；
●電壓提示，自動(dòng)關(guān)機(jī)；
●大屏幕LCD背光顯示，可調(diào)節(jié)對(duì)比度；
●兩點(diǎn)校準(zhǔn)，能提高精度。
測(cè)頭類(lèi)型
TC260新
測(cè)頭類(lèi)型
F1或N1
工作原理
磁感應(yīng)或電渦流
測(cè)量范圍
0~1250μm
低限分辨率
0.1μm
示值誤差
一點(diǎn)校準(zhǔn)
±（3%H+1）
二點(diǎn)校準(zhǔn)
±[（1~3%)H+1]
測(cè)試條件
*小曲率半徑mm
凸1.5、凹9
*小面積直徑mm
Φ7
基本臨界厚度mm
0.5
工作環(huán)境
溫度
0~40℃
濕度
20%~90%
電源
6V可充電鎳氫電池
外形尺寸
212×80×32mm（主機(jī)）
重量
400g
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、電源適配器、打印紙
選配
其他多種探頭、打印紙、
儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
探頭
F400
F1
F1/90
F10
N400
N1
CN02
測(cè)量原理
磁性
渦流
測(cè)量范圍（μm）
0～400
0～1250
0～10mm
0～400
0～12500
10～200
測(cè)量精度μm
一點(diǎn)校準(zhǔn)
±[(1～3)%H+0.7]
±（3%H+1）
±（3%H+10）
±（3%H+1）
±（3%H+1.5）
±(3%H+1)
二點(diǎn)校準(zhǔn)
±（1～3％H+0.7）
±[(1~3)%H+1]
±[(1～3)%H+10]
±[(1～3)%H+1]
±[(1～3)%H+1.5]
---
低限分辨率
0.1
0.1
1
0.1
0.1
1
*小曲率半徑(mm)
(凸)1
1.5
平直
10
1.5
3
僅為平面
*小面積直徑(mm)
￠3
￠7
￠40
￠4
￠5
￠7
基本臨界厚度(mm)
0.2
0.5
2
0.3
0.3
無(wú)限制
測(cè)頭選用參考表
覆蓋層基體
有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等）
非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
覆蓋層厚度不超過(guò)100μm
覆蓋層厚度超過(guò)100μm
覆蓋層厚度不超過(guò)100μm
覆蓋層厚度超過(guò)100μm
如鐵、鋼等磁性金屬
被測(cè)面積直徑大于30mm
F400型測(cè)頭0～400μm
F1型測(cè)頭
F400型測(cè)頭0～400μm
F1型測(cè)頭
被測(cè)面積直徑小于30mm
F400型測(cè)頭0～400μm
F400型測(cè)頭0～400μm
F400型測(cè)頭0～400μm
F400型測(cè)頭0～400μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬
被測(cè)面積直徑大于10mm
N1型測(cè)頭0～1250μm
僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm
被測(cè)面積直徑大于10mm
N400測(cè)頭0～400μm
N400測(cè)頭0～40μm
塑料、印刷線路非金屬基體
被測(cè)面積直徑大于7mm
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CN02型測(cè)頭10～200μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
0～1250μm
F10型測(cè)頭
0～10μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
0～1250μm
F10型測(cè)頭
0～10μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
N400測(cè)頭0～400μm
